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Huntron Access Probers und Dual Head Prober (Flying Probe)
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Huntron Access Prober (Flying Probe)
Analoge Signaturanalyse effektiver als jemals zuvor!
Sehen Sie den Huntron Access Prober in Aktion - Windows Media oder Quicktime
Huntron Access Prober in Verbindung mit Huntron ProTrack, dem neuen Tracker Model 30, TrackerPXI oder einen Access Prober mit dem integrierten Tracker Model 30 als „all-in-one“ Teststation. Huntron Access Prober testen Platinen bis zu einer Größe von 56
cm x 58 cm automatisch und wirtschaftlich. Diese können auch mit Fine Pitch Bauteilen in QFP oder TSOP Gehäusen bestückt sein.
Durch die präzise Mechanik kann der Prober die Testspitze so exakt positionieren, das Kontakte von Fine Pitch Bauteilen zuverlässig und wiederholgenau kontaktiert werden können.
Die Firma Huntron bietet beim Kauf eines Huntron Access Prober Systems eine kostenlose Schulung (3 day training class) für
maximal zwei Personen am Hauptsitz der Firma in Mill Creek im Bundesstaat Washington / USA an.
Die Huntron® Access Prober wurden entwickelt um präzise und schnell Testpunkte, Durchkontaktierungen oder Lötpunkte auf einer Platine zu kontaktieren. Die Wiederholgenauigkeit von 0,02 mm garantiert eine zuverlässige Kontaktierung von eng bestückten
Platinen. Der Prober kann sowohl mit einer Huntron Standard Testspitze oder bei Bedarf mit einer speziellen Kundenspitze arbeiten. Der Huntron Access Prober bietet somit eine “Flying Probe Technology” zu einem äußerst wirtschaftlichen Preis. Die hochauflösende Farbkamera gewährleistet ein präzises Einlernen der Meßpunkte und liefert ein gestochen scharfes Bild des Prüflings.
Die offene Architektur der Huntron Access Prober und der Software erlaubt dem Anwender eigene Hardware in die Teststation einzubinden. Es sind für die Prober Treiber für National Instruments, LabVIEW und LabWindows/CVI verfügbar.
Der Huntron Access Prober kann somit kundenspezifisch für bestimmte Aufgaben und Abläufe durch eine zusätzliche Software modifiziert werden. Typische Aufgaben sind:
- Anweisungen um während eines Tests Messwerte zu ermitteln.
- Automatisches Anlegen eines Signals während eines Tests.
- Anweisungen zum verändern von Schalterstellungen oder Umstecken von Jumpern.
- Auf Anforderung Tasten zu drücken.
- Mit der integrierten Farbkamera visuelle Kontrollen durchzuführen.
Sparen Sie Zeit, Geld und reduzieren Sie das Inventar
Huntron Access Prober können zur Fehlersuche an Platinen eingesetzt werden, die
wegen mechanischer Eigenschaften oder Bestückungsdichte nicht mit Nagelbettadaptern getestet werden können. Selbst wenn ein Testadapter eingesetzt werden könnte, macht es oftmals keinen Sinn, in die hohen Adapterkosten und die Kosten für die Testprogrammerstellung zu investieren, um kleinere Stückzahlen oder Produkte mit einer großen Typenvielfalt zu testen bzw. zu reparieren. Die Huntron Access Prober bieten hier eine wirtschaftliche Alternative für eine automatisierte
Fehlersuche auf Bauteilebene selbst bei Kleinserien.
Anstelle von zeitraubenden Rücksendungen von Platinen zum Herstellerwerk (verbunden mit einer entsprechenden Lagerhaltung von Ersatzboards) oder dem Versand von kompletten Systemen können Sie mit Hilfe der Access Prober von Huntron schnell und wirtschaftlich Fehler finden und beheben.
Machen sie es sich einfach
Bei den Huntron Access Probern wird eine integrierte Farbkamera zum Einlernen der Kontaktierungspunkte verwendet. Mit Hilfe der Huntron Workstation Software werden vor dem Einlernen Referenzpunkte festgelegt, die eine präzise Positionierung des Prüflings gewährleisten. Damit wird die hohe Genauigkeit erreicht, die z.B. für Fine Pitch Bauteile unerlässlich ist. Die komfortable
und intelligente Software unterstützt den Anwender beim Einlernen von Testpunkten an z.B. TSOP oder QFP Gehäusen durch Lernen von drei Punkten (erster, letzter und diagonaler Pin) und dem folgenden errechnen der restlichen Anschlusspositionen. Bei Bauteilen mit 200 und mehr Pins ermöglicht die Huntron Workstation Software natürlich ein sehr komfortables und effektives Arbeiten.
Der Prober kann auf den Prüflingen entweder einzelne Komponenten oder ganze Sektionen automatisch abscannen. Die von einem funktionierenden Board aufgenommenen Signaturen werden gespeichert und dienen als Referenz für die Fehlersuche an defekten Platinen.
Datenblatt Huntron Access Diagnostic Systems
Huntron Access DH Prober (Dual Head Flying Prober)
Der neue Access DH (dual head) Prober von HUNTRON Inc. ist als offene Plattform
konzipiert und damit noch wesentlich flexibler als die Acces Prober mit einem Testkopf. Er ist eine frei konfigurierbare Teststation für jede nur erdenkliche Anwendung im Bereich automatische Kontaktierung, Messung und Test. Egal ob Sie Ihr Produkt zuerst soweit wie möglich mit Boudary Scan testen und im selben Arbeitsgang die nicht BS fähigen Teile mit anderen Testmethoden überprüfen möchten. Sie können Hochspannungsmessungen vollautomatisch und ohne die Gefahr einer möglichen
Berührung durch einen Techniker durchführen. Für automatisierte Messungen mit Multimeter, Oszilloskop, Frequenzzähler etc., auch mit Anlegen eines Stimulus, bietet Ihnen der Access DH Prober durch die beiden Testköpfe die erforderliche Flexibilität. für jede Aufgabenstellung. Die hohe Wiederholgenauigkeit gewährleistet eine zuverlässige Kontaktierung von sehr kleinen Testpunkten (z.B. Pins oder Lötpads an
QFP, TSOP oder anderen Fine Pitch Bauteilen) auch auf "High Density Boards".